特許

J-GLOBAL ID：200903068262896128

差動増幅回路

発明者： 久保田 修司
出願人/特許権者： 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
代理人 (1件)： 加藤 朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-164725
公開番号（公開出願番号）：特開平11-352193
出願日： 1998年06月12日
公開日（公表日）： 1999年12月24日
要約：

【要約】【課題】Iddqテストを実行可能とするとともに、Iddqテスト回路を持たない差動増幅回路と比較した場合に同等の動作特性を有する差動増幅回路の提供。【解決手段】カレントミラー回路を負荷とする差動トランジスタ対を含む差動増幅回路において、テストモード時に、カレントミラー回路を構成する2つのトランジスタの共通接続点(133)と、2つのトランジスタのうち一方のトランジスタの一端(133)との接続を切り離す第1のスイッチ(115)と、差動トランジスタ対の一方のトランジスタにデータ入力するデータ入力端を、カレントミラー回路を構成する2つのトランジスタの共通接続点に接続する第2のスイッチ(116)と、を備える。

請求項（抜粋）：

カレントミラー回路を負荷とする差動トランジスタ対を含む差動増幅回路において、テストモード時に、前記カレントミラー回路を構成する2つのトランジスタの共通接続点と、前記2つのトランジスタのうち一方のトランジスタの一端との接続を切り離す第1の切替手段と、前記差動トランジスタ対の一方のトランジスタにデータを入力するデータ入力端を、前記カレントミラー回路を構成する前記2つのトランジスタの共通接続点に接続する第2の切替手段と、を備えたことを特徴とする差動増幅回路。

IPC (5件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  H03F 3/45

FI (5件)：

G01R 31/28 V ,  G01R 31/26 B ,  G01R 31/26 G ,  H03F 3/45 ,  H01L 27/04