特許
J-GLOBAL ID:200903068266967593
リターディング素子の光学特性の測定方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
古谷 馨 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-002689
公開番号(公開出願番号):特開2002-318169
出願日: 2002年01月09日
公開日(公表日): 2002年10月31日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】複屈折サンプルのリターデイション及び固有偏光の特性を測定するための便利な方法を提供する。【解決手段】a)所定の偏光を有するプローブビームを生成するステップと、b)ビームを、一定の動力学的位相差を有する2つの偏光成分に分割するステップと、c)2つの偏光ビーム成分のそれぞれを反対方向から複屈折サンプルを通過させ、それぞれの偏光に同じ位相遅れを生じさせるステップと、d)さらに、検光子を通過させ、検光子の偏光軸に沿ってビーム成分のそれぞれの偏光を分解するステップと、e)偏光分解されたビームが、同じ動力学的位相を保持して、干渉するように、光検出器で受光するステップと、f)検出器を用いて、ビーム間の干渉を測定するステップとを含み、幾何学的位相を変化させるために、検光子の角度を回転させ、測定された変化する干渉が複屈折サンプルのリターデイション及び固有偏光を計算するために利用される方法。
請求項(抜粋):
未知のリターディング素子のリターデイション及び固有偏光の特性を光学的に測定する方法であって、a)所定の偏光を有する光学的プローブビームを生成するステップと、b)前記光学的プローブビームを、一定の動力学的位相差を有する2つの成分に分割するステップと、c)前記2つのプローブビーム成分のそれぞれを反対方向から前記リターディング素子を通過させ、それによって前記プローブビーム成分のそれぞれの偏光に同じ度合いだけ位相遅れを生じさせるステップと、d)前記位相遅れを生じたプローブビーム成分を、所定の偏光軸を有する偏光用の検光子を通過させ、前記軸に沿って前記位相遅れを生じたプローブビーム成分のそれぞれの偏光を分解するステップと、e)前記偏光分解されたビームが、同じ動力学的位相を保持し、かつ2つの干渉する偏光分解されたビーム間の幾何学的位相に依存してコヒーレントに干渉するように、光検出器上で前記偏光分解されたビームを受光するステップと、f)前記光検出器を利用して、前記2つの干渉する偏光分解されたビーム間の干渉を測定するステップとを含み、前記幾何学的位相、すなわち前記光検出器の測定される干渉を変化させるために、前記検光子の前記偏光軸の角度が、回転軸に沿って前記偏光分解されたプローブビームのそれぞれの偏光を分解するように回転し、前記変化する測定される干渉が、前記未知のリターディング素子のリターデイション及び固有偏光を計算するために利用される方法。
IPC (5件):
G01M 11/00
, G01J 4/04
, G01N 21/21
, G01N 21/23
, G02F 1/13 101
FI (5件):
G01M 11/00 T
, G01J 4/04 Z
, G01N 21/21 Z
, G01N 21/23
, G02F 1/13 101
Fターム (18件):
2G059AA02
, 2G059BB08
, 2G059BB16
, 2G059EE05
, 2G059EE09
, 2G059GG04
, 2G059GG10
, 2G059JJ13
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G086EE12
, 2H088JA05
, 2H088JA14
, 2H088KA07
, 2H088MA20
引用特許:
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