特許
J-GLOBAL ID:200903068284287443
三次元測定機による直径値算出方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
伊丹 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-168979
公開番号(公開出願番号):特開平8-014881
出願日: 1994年06月28日
公開日(公表日): 1996年01月19日
要約:
【要約】【目的】 測定面に凹部や凸部が存在しても正しい直径値を求めることを可能にする。【構成】 三次元測定機によりワークの円断面を所定の測定点数だけ測定して各点の座標を取得し、求められた各点の座標から平均円ACを算出する。この平均円ACの中心点P0 とこの中心点P0 を挟んで互いに対向する位置に配置された2つの測定点Si ,Si+N/2 との間の距離を加算して直径値Di を算出する。そして、各測定点について求められた直径値Di から異常値を検出し、この異常値を複数の直径値Di から排除する
請求項(抜粋):
三次元測定機によりワークの円断面を所定の測定点数だけ測定して各点の座標を取得する第1のステップと、このステップで求められた各点の座標から平均円を算出する第2のステップと、前記各測定点について前記第2のステップで求められた平均円の中心点とこの中心点を挟んで互いに対向する位置に配置された2つの測定点との間の距離を加算して直径値を算出する第3のステップとを備えたことを特徴とする三次元測定機による直径値算出方法。
IPC (2件):
G01B 21/10
, G01B 21/20 101
引用特許:
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