電磁界および放射線生体影響の測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-323085
公開番号（公開出願番号）：特開2001-103971
出願日： 1999年10月07日
公開日（公表日）： 2001年04月17日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】電磁界および放射線による生体影響をDNA損傷に対する微生物のSOS修復遺伝子の発現応答を用いて定量的に評価する。【解決手段】生きた細菌細胞が保有する核酸の損傷に対する修復機構の中核をなすlex-rec遺伝子産物の相互作用によるSOS修復応答の発現を利用して、DNAが電磁界および放射線によって損傷を受ける程度を定量的に測定する。極低周波磁界を2時間曝磁したことによる遺伝子突然変異誘発頻度の測定結果を示したものである。【効果】β-galactosidaseの活性を調べることにより、umuオペロンの発現の程度を知ることができ、これによってDNA損傷の有無を定量的に評価することができるとともに、遺伝子突然変異誘発の試験が簡便且つ迅速に行える。

請求項（抜粋）：

細菌のSOS DNA修復応答に関与するLexAタンパク質によって転写が抑制される遺伝子レギュロンのうちオペレータ/プロモータ領域を含むSOS遺伝子群またはその一部と、その下流に検出可能な酵素活性を示すレポータ遺伝子を組換えDNA技術によって結合したプラスミドおよび/または染色体を保有する生きた細菌細胞を培養し、細菌を電磁界や放射線照射環境に一定時間曝露し、レポータ遺伝子の産物である酵素を粗抽出し酵素活性を測定し、酵素活性と同一細菌をDNA損傷標準物質に曝露した後に測定した酵素活性から電磁界および放射線曝露によるDNA損傷の程度を定量する方法。

IPC (3件)：

C12N 15/09 , C12Q 1/34 , C12Q 1/68

FI (3件)：

C12Q 1/34 , C12Q 1/68 Z , C12N 15/00 A

Fターム (15件)：

4B024AA05 , 4B024AA07 , 4B024AA10 , 4B024AA11 , 4B024BA12 , 4B024CA05 , 4B024DA05 , 4B024EA04 , 4B024FA02 , 4B024GA11 , 4B024HA11 , 4B063QS05 , 4B063QS28 , 4B063QS38 , 4B063QX02

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