特許
J-GLOBAL ID：200903068291031284
溶接部の超音波検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
武田 賢市
, 武田 明広
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-131994
公開番号（公開出願番号）：特開2004-333387
出願日： 2003年05月09日
公開日（公表日）： 2004年11月25日
要約：
【課題】溶接部のスリット部へ超音波を導入して、スリット部からの反射エコーにより溶接状態の良否を判定する手段として、予め実製品と共通する人工欠陥試験体によるデータを作成し、このデータに基づいて最適な探触子の探傷位置を測定し、簡便に検査結果が得られる方法を提供する。【解決手段】予め、スリット部7の高さを相違させた複数個の試験体7を作成して、探触子11を特定位置からスリット部に接近・分離移動させた時の複数のエコー高さを測定してデータ化し、これらのデータを元に探触子の測定位置Aを決定して、これにより各試験体のエコーの高さを抽出したマスターデータ13を作成し、実製品の溶接部に前記探触子測定位置Aでのスリット部のエコー高さを測定して、この測定値と前記マスターデータと照合して溶接状態の良否を判定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
フランジとウェブの開先溶接部における溶け込み残り部分としてのスリット部へ超音波を導入して、スリット部からの反射エコーにより溶接状態の良否を判定する検査方法であり、
予め、スリット部の高さを夫々相違させた複数個の人工欠陥試験体を作成して、これら各試験体について、探触子を特定位置からスリット部に対して接近・分離移動させた時の複数のエコー高さを測定して、これらの各試験体における複数位置でのエコー高さの測定結果をデータ化し、
これらのデータのうち、溶接部の良否判定基準となる高さのスリット部を有する試験体の基準データを元に、他の試験体によるデータの値と前記基準データの値との差が明確に表れている部分での探触子の測定位置を決定して、この測定位置における各試験体のエコー高さを抽出したマスターデータを作成し、
次いで、検査対象である実製品の溶接部に対して、前記探触子測定位置でのスリット部のエコー高さを測定して、この実製品におけるエコー高さの測定値を前記マスターデータと照合して溶接状態の良否を判定する、
溶接部の超音波検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N29/10 505
, B23K31/00 K
2G047AB07
, 2G047BA03
, 2G047BC03
, 2G047BC18
, 2G047EA10
, 2G047GG20
, 2G047GG28
, 2G047GG33
