特許
J-GLOBAL ID：200903068299150045
遺伝子解析方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
薄田 利幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-267362
公開番号（公開出願番号）：特開平8-187098
出願日： 1995年10月16日
公開日（公表日）： 1996年07月23日
要約：
【要約】【課題】 目的遺伝子配列の存在の有無、存在量や配列特徴を高感度に得ることが可能で、かつ前処理から遺伝子情報の獲得、解析に至るまでの全過程が、簡便な装置構成および操作により高速に実現可能な方法および装置を提供すること。【解決手段】 目標とする遺伝子領域の一本鎖DNAを調製し、変性条件制御手段によって該一本鎖DNA断片の高次構造の変性条件を変化させながら、該一本鎖DNA断片試料の吸光度変化を計測し、該変性条件変化に対する該吸光度変化の曲線を解析することによって、該一本鎖DNAの配列情報すなわち目標とする遺伝子配列情報を、迅速かつ簡便に得る。
請求項（抜粋）：
検体二本鎖DNA断片から一本鎖DNA断片を準備すること、該一本鎖DNA断片の高次構造を所定の変性条件によって変性させること、該変性条件と変性の結果との関係を示す変性曲線データを得ること、該変性曲線データと前記検体二本鎖DNA断片に対応する既知の多型二本鎖DNA断片から得られた一本鎖DNA断片による高次構造が変性するときの変性条件による変性曲線データを比較することとよりなり、該比較結果から前記検体二本鎖DNA断片を前記既知の多型二本鎖DNA断片との対応関係に応じて表示することを特徴とする遺伝子解析方法。
IPC (6件)：
C12Q 1/68
, C07H 21/04
, C12M 1/00
, C12N 15/09
, G01N 33/50
, G06F 17/60
C12N 15/00 A
, G06F 15/21 Z
