特許
J-GLOBAL ID：200903068321267148
顕微鏡装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-246354
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090608
出願日： 1996年09月18日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 試料上の互いに異なる複数の部位に照射光を同時に集光照射することができる顕微鏡装置を提供する。【解決手段】 照射用光源10から出力され分岐光学系20により分岐されて出射した照射光AおよびBは、集光レンズ31、ダイクロイックミラー35および41ならびに対物レンズ42を経て、対物レンズ42の視野領域内にある試料50の2点に同時に照射される。励起用光源32から出力された励起光Cは、集光レンズ33およびバンドパスフィルタ34等を経て、試料50に照射される。照明用光源45から出力された照明光Dは、集光レンズ46により試料50に照射される。試料50から発生した蛍光Eおよび透過光Fは、対物レンズ42、ダイクロイックミラー41、バンドパスフィルタ44および反射鏡61を経て、テレビカメラ62により撮像され、モニタ部64に表示される。
請求項（抜粋）：
試料に照射すべき光束を出力する照射用光源と、前記照射用光源から出力された光束を分岐して第1の照射光および第2の照射光を出力する分岐光学系と、前記第1および前記第2の照射光それぞれを入力し視野領域内の前記試料上の2点それぞれに集光照射させる対物レンズと、前記対物レンズに入射した前記試料からの光像を検出する検出光学系と、を備えることを特徴とする顕微鏡装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02B 21/18
, G01N 21/64 E
