特許
J-GLOBAL ID：200903068331696551
半導体装置の測定用プローブボード
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
船橋 国則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-018073
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201770
出願日： 1993年01月08日
公開日（公表日）： 1994年07月22日
要約：
【要約】【目的】 メインテナンスが容易で、しかもファインピッチの半導体装置に対応できる半導体装置の測定用プローブボードを提供すること。【構成】 基板2の略中央部に半導体装置10の載置部を有するブロック片3を取り付け、ブロック片3を貫通する状態に複数のプローブピン4を設ける。この各プローブピン4の一端である接触端4aをブロック片3の上面から突出させ半導体装置10の各アウターリード11に対応して配置し、他端である挿入端4bを基板2に挿入して配線パターン21と導通させる。また、ブロック片3を各プローブピン4とともに基板2から着脱自在に取り付けたり、ブロック片3に半導体装置10のガイド部5を設けた測定用プローブボード1である。
請求項（抜粋）：
半導体装置から導出する複数のアウターリードと接触し、該半導体装置と外部の電気回路との電気的な導通を得るための半導体装置の測定用プローブボードにおいて、所定の配線パターンが形成された基板と、前記基板の略中央部に取り付けられ、前記半導体装置の載置部を有するブロック片と、前記ブロック片を貫通する状態に設けられた複数のプローブピンとから成り、前記複数のプローブピンの一端が前記ブロック片の上面から突出して、前記半導体装置の各アウターリードの配列と対応する位置にそれぞれ配置され、他端が前記基板に挿入されて前記配線パターンと導通状態となっていることを特徴とする半導体装置の測定用プローブボード。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, G01R 1/073
, H01R 33/76
