ポリクロメータシステム及び分光分析方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：吉田研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-034798
公開番号（公開出願番号）：特開平6-317471
出願日： 1994年03月04日
公開日（公表日）： 1994年11月15日
要約：

【要約】【目的】 CLPタイプの分析に適する、改良された検出限界を有する分光分析システムを提供する。【構成】分光分析システムは、照射をスペクトラムに分散して出口のアレイに同時に供給するための照射分散装置16と、分析される試料をスペクトル発生レベルまで励起して、分散装置16によって分散される照射線を生成する試料励起装置32と、対象となる元素からの第1順位照射を感知すべく第1出口に隣接して設けられた第1検出器20A-20Dと、同じ元素からの第2順位照射を感知すべく第2出口に隣接して設けられた第2検出器20E-20Hを含む検出器の対応するアレイを有する出口アレイ38と、第1及び第2検出器の出力に対応して、試料中の対象となる元素の量の関数として補償された出力を供給する処理装置40とを有する。

請求項（抜粋）：

ハウジング(8)と、試料励起手段(32)と、前記ハウジング内に設けられ、前記試料励起手段によりスペクトラム発光レベルまで励起された試料の発する照射線を通過させる入り口開口決定手段(12)と、前記ハウジング内に設けられ、前記照射線の照射をスペクトラムに分散するための分散手段(16)と、前記ハウジング内に設けられ複数の出口開口を決定する手段であり、第1の出口開口に関連する第1順位検出器手段(20A-20D)、及び第2の出口開口に関連する第2順位検出器手段(20E-20H)を供給する出口開口決定手段(38)と、前記第1順位検出器手段の出力の振幅を最大化する第1の状態と、前記第2順位検出器手段の出力の振幅を最大化する第2の状態を有する選択手段(36)と、前記第1及び第2検出器手段(20)に接続され、検出器手段の第1順位出力と第2順位出力の差を処理して、前記試料中の対象となる元素の補償された値を供給するための信号処理装置(40)と、を有することを特徴とするポリクロメータシステム。

IPC (3件)：

G01J 3/36 , G01J 3/18 , G01N 21/73

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平4-099929
特開平4-009723
特開昭58-046566

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