特許
J-GLOBAL ID:200903068373095299
倒立顕微鏡装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
奈良 武
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-260313
公開番号(公開出願番号):特開2001-083430
出願日: 1999年09月14日
公開日(公表日): 2001年03月30日
要約:
【要約】【課題】 大重量の撮像装置などの観察装置を倒立顕微鏡の下方の光路に配置する場合に、倒立顕微鏡への悪影響をなくす。【解決手段】 試料の下方に対物レンズが配置されると共に、対物レンズを通過した光をさらに下方に導く導光開口部51が底面部に設けられた倒立顕微鏡50と、倒立顕微鏡50の下方に配置され、導光開口部51を通過した光によって試料の像を観察する観察装置60と、観察装置60の外形よりも大きな開口部71が設けられ、少なくとも倒立顕微鏡を支持する作業台70と、導光開口部51からの光を観察装置60に導く光路81が設けられると共に、作業台70上に載置された状態で倒立顕微鏡50を支持する支持部材80とを備える。支持部材80が観察装置60の重量を支えるため、大重量の観察装置60による倒立顕微鏡50への悪影響がなくなる。
請求項(抜粋):
試料の下方に対物レンズが配置されると共に、対物レンズを通過した光をさらに下方に導く導光開口部が底面部に設けられた倒立顕微鏡と、この倒立顕微鏡の下方に配置され、前記導光開口部を通過した光によって前記試料像を撮像する撮像手段と、この撮像手段の外形よりも大きな開口部が設けられ、少なくとも前記倒立顕微鏡が支持される作業台と、前記導光開口部からの光を前記撮像手段に導く光路が設けられると共に、前記作業台上に載置された状態で倒立顕微鏡を支持する支持部材と、を備えていることを特徴とする倒立顕微鏡装置。
IPC (3件):
G02B 21/24
, G02B 21/00
, G02B 26/10
FI (3件):
G02B 21/24
, G02B 21/00
, G02B 26/10 C
Fターム (16件):
2H045BA41
, 2H045DA31
, 2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AB14
, 2H052AB24
, 2H052AB25
, 2H052AC04
, 2H052AC05
, 2H052AC15
, 2H052AC34
, 2H052AD02
, 2H052AD03
, 2H052AD36
, 2H052AD37
, 2H052AF14
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