特許
J-GLOBAL ID:200903068381524174
外観検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
島田 明宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-051778
公開番号(公開出願番号):特開2003-247955
出願日: 2002年02月27日
公開日(公表日): 2003年09月05日
要約:
【要約】【課題】 コストを低く抑え、装置の構成を簡素化し、検査サイクルタイムを短縮することができる外観検査装置を提供する。【解決手段】 本外観検査装置は、長寸部品であるワーク151〜153表面の欠陥を検出するために、ワーク151〜153を順次撮像するラインセンサカメラ100と、その撮像範囲120内においてワーク151〜153を均一に照明するためにバー状に配列された例えばLEDから成る照明部110と、ワーク151〜153を回転させる第1の回転ローラ130および第2の回転ローラ140と、ワーク151〜153をほぼ一定の速度で連続的に回転軸方向へ押し出す第1の押出ローラ180および第2の押出ローラ190と、ラインセンサカメラ100が撮像した画像のデータを処理して画像の傾きを検出し、検出された傾きに基づいてワーク側面上の欠陥を検出する画像処理部170とを備える。
請求項(抜粋):
検査すべき複数の対象物の表面上に存する欠陥を検出する外観検査装置であって、所定の中心軸方向に整列する複数の前記対象物をそれぞれ前記中心軸まわりに回転させる回転手段と、前記回転手段により回転する複数の前記対象物を前記中心軸方向に所定の速度で移動させる搬送手段と、前記回転手段により回転する前記対象物の表面を撮像する撮像手段と、前記撮像手段が撮像した画像に基づき、前記対象物の表面上に存する欠陥を検出する欠陥検出手段とを備えることを特徴とする、外観検査装置。
IPC (4件):
G01N 21/952
, G01B 11/00
, G01B 11/26
, G01B 11/30
FI (4件):
G01N 21/952
, G01B 11/00 H
, G01B 11/26 H
, G01B 11/30 A
Fターム (42件):
2F065AA12
, 2F065AA31
, 2F065AA49
, 2F065BB06
, 2F065BB12
, 2F065BB15
, 2F065BB16
, 2F065DD06
, 2F065FF42
, 2F065GG07
, 2F065GG14
, 2F065JJ02
, 2F065JJ25
, 2F065MM03
, 2F065MM04
, 2F065PP12
, 2F065PP13
, 2F065PP16
, 2F065QQ03
, 2F065QQ12
, 2F065QQ21
, 2F065QQ23
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2F065QQ51
, 2F065RR05
, 2F065RR06
, 2G051AA44
, 2G051AB02
, 2G051AB03
, 2G051AB07
, 2G051BA01
, 2G051CA03
, 2G051CD07
, 2G051DA06
, 2G051DA08
, 2G051DA09
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EB01
引用特許:
出願人引用 (3件)
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特開昭53-042063
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特開昭56-016849
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特開昭56-057938
審査官引用 (3件)
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特開昭53-042063
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特開昭56-016849
-
特開昭56-057938
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