特許

J-GLOBAL ID：200903068411830763

ガス測定における他ガスの影響補正方法

発明者： 山本 和成
出願人/特許権者： 東京瓦斯株式会社
代理人 (1件)： 三觜 晃司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-094043
公開番号（公開出願番号）：特開2000-283915
出願日： 1999年03月31日
公開日（公表日）： 2000年10月13日
要約：

【要約】【課題】測定ガスを光学セルに導入して光を透過させ、その吸収により測定を行うガス測定方法においては、大気のような水蒸気を含む測定ガスでは、他ガスの吸収線や、この波長帯に多数存在する水蒸気の吸収線が目的のガスの吸収線と重なる場合があり、この場合には測定値が影響を受けてしまい、これを防止するのが比較的困難であったり、高価な装置が必要となってしまう等の課題がある。【解決手段】そこで本発明では、このような課題を解決するために、測定に用いる目的のガスの吸収線と他のガスの吸収線が重なっている場合において、この第1の他のガスとは別に、吸収線が目的のガスの吸収線と重ならず、且つ、温度特性が第1の他のガスと同様な第2の他のガスを選定して、第1の他のガスと第2の他のガスとの吸収深さの比を求め、ある温度における目的のガスと第1の他のガスの重なった吸収線の吸収深さから、第2の他のガスの吸収深さに前記比の値を乗じた補正値を減じて目的のガスの吸収線の吸収深さを求める他ガスの影響補正方法を提案するものである。

請求項（抜粋）：

測定ガスを光学セルに導入して光を透過させ、その吸収により測定を行うガス測定方法において、測定に用いる目的のガスの吸収線と他のガスの吸収線が重なっている場合において、この第1の他のガスとは別に、吸収線が目的のガスの吸収線と重ならず、且つ、温度特性が第1の他のガスと同様な第2の他のガスを選定して、第1の他のガスと第2の他のガスとの吸収深さの比を求め、ある温度における目的のガスと第1の他のガスの重なった吸収線の吸収深さから、第2の他のガスの吸収深さに前記比の値を乗じた補正値を減じて目的のガスの吸収線の吸収深さを求めることを特徴とするガス測定における他ガスの影響補正方法

FI (2件)：

G01N 21/27 F ,  G01N 21/27 Z

Fターム (13件)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC05 ,  2G059CC06 ,  2G059CC20 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF08 ,  2G059GG00 ,  2G059KK00 ,  2G059NN02 ,  2G059NN04