特許

J-GLOBAL ID：200903068445499985

故障診断方法

発明者： 津山 努 ,  恒川 佳世 ,  佐藤 茂 ,  下社 貞夫
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-260614
公開番号（公開出願番号）：特開平7-114484
出願日： 1993年10月19日
公開日（公表日）： 1995年05月02日
要約：

【要約】【目的】 機器の故障診断を故障現場でも行えるようにして、より迅速に故障診断を行い、しかも、FTの構築をより容易ならしめ、故障診断データの一元管理が可能にする。また、故障の因果関係を用いた樹木を用いて診断をおこなう場合に、その樹木をわかりやすく表示し、より操作性を良くし、初心者でも操作可能にする。【構成】 機器の故障データを用いて故障診断をおこなう方法において、前記故障データを携帯用コンピュータで前処理をおこない、ホストコンピュータで後処理をおこなう垂直分散システムでシステムを構成する。また、故障の因果関係を表した樹木の各節をカテゴリーに分類して、各節に対応する表示項目をグループとして表示装置に表示する。

請求項（抜粋）：

計算機システムにより、収集された機器の故障データを参照することにより故障診断をおこなう方法において、前記故障データを携帯用コンピュータで前処理をおこない、ホストコンピュータで後処理をおこなうことを特徴とする故障診断方法。

IPC (3件)：

G06F 11/22 360 ,  G06F 17/40 ,  G06F 11/30

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 品質情報診断解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-132196   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平3-154846
  
• 特開平4-317141