特許
J-GLOBAL ID：200903068457376498
自動分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中島 淳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-256042
公開番号（公開出願番号）：特開平7-110333
出願日： 1993年10月13日
公開日（公表日）： 1995年04月25日
要約：
【要約】【目的】 異常が発生した場合にも試料を無駄にすることなく誤差の少ない適正な測定結果を得る。【構成】 被分析試料が標準試料と共にセットされると標準試料の抗原濃度を取り込み(ステップ118)、各試料の発光量を測定する(ステップ120 〜)。標準試料の発光量が測定されると予め求められた検量線データが取り込まれ一点補正係数αが演算される(ステップ122 〜126)。係数αが所定範囲内の場合には係数αを用いて検量線を補正し補正した検量線を用いて被分析試料の発光量を抗原濃度に換算し出力する(ステップ130 〜136)が、係数αが所定範囲外の場合は被分析試料の発光量を記憶し検量線を求めるキャリブレーションの実行を指示する(ステップ138,140)。ステップ102 〜108 で新たに検量線が求まると、該検量線を用いて前記記憶した発光量を抗原濃度に換算し出力する(ステップ112 〜116)。
請求項（抜粋）：
特定成分の濃度が既知の標準試料及び被分析試料の前記特定成分の濃度と関連する物理量を測定する測定手段と、前記測定手段によって測定された特定成分の濃度が各々異なる複数の第1の標準試料の各々の前記物理量の測定値と第1の標準試料の各々の特定成分の濃度とに基づいて試料の前記物理量と前記特定成分の濃度との関係を表す検量線を求める検量線演算手段と、測定手段によって測定された第2の標準試料の前記物理量の測定値と該第2の標準試料の特定成分の濃度と前記検量線とに基づいて検量線を補正するための補正係数を演算する補正係数演算手段と、測定手段によって測定された第2の標準試料及び被分析試料の物理量の測定値を記憶するための記憶手段と、前記補正係数演算手段によって演算された補正係数の値が所定範囲内の場合には、前記検量線を前記補正係数によって補正し、該補正した検量線と測定手段によって測定された被分析試料の物理量の測定値とに基づいて前記被分析試料の前記特定成分の濃度を演算し、補正係数演算手段によって演算された補正係数の値が所定範囲外の場合には、測定手段によって測定された第2の標準試料及び被分析試料の物理量の測定値を前記記憶手段に記憶させると共に、前記検量線演算手段によって新たに検量線が求められるように指示し、新たに求められた検量線と記憶手段に記憶されている第2の標準試料及び被分析試料の物理量の測定値とに基づいて被分析試料の特定成分の濃度を演算する制御手段と、を含む自動分析装置。
IPC (3件)：
G01N 35/00
, G01N 33/543 531
, G01N 35/04
