特許
J-GLOBAL ID：200903068460048825
スティックスリップ検出方法および検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-043347
公開番号（公開出願番号）：特開平10-047313
出願日： 1997年02月27日
公開日（公表日）： 1998年02月17日
要約：
【要約】【課題】 スティックスリップが発生している状態と正常な状態との相違の程度を数量で与えられるようにすることを目的とする。【解決手段】 変位検出部1で検出した変位信号より、1階微分演算部2でその変位信号の1階微分値を算出する。また、変位信号より、2階微分演算部3で変位信号の2階微分値を算出する。ここで、特性記憶部4に記憶されている特性式により、算出した1階微分値を用いて、2階微分値推定部5において推定2階微分値を推定する。そして、診断演算部6において、その推定2階微分値と、2階微分演算部3で得られた2階微分値との差を求め、この結果によりスティックスリップの発生を判断する。
請求項（抜粋）：
接触摺動部を有する可動部の異常を検出するスティックスリップ検出方法において、前記可動部の変位を検出し、前記変位より第1の状態量を算出し、前記変位より第2の状態量を算出し、予め求めてある前記可動部の正常動作時の変位より得られる第1の状態量と第2の状態量との関係を利用し、前記算出した第1の状態量より前記第2の状態量を推定して推定状態量を算出し、前記算出した第2の状態量と前記推定状態量とを比較することで前記可動部の異常を判断することを特徴とするスティックスリップ検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
F15B 20/00 D
, G01M 13/00
