特許
J-GLOBAL ID:200903068495086622
組織をその誘電特性に基づいて検査する方法とシステム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
風早 信昭
, 浅野 典子
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-560509
公開番号(公開出願番号):特表2005-514996
出願日: 2002年12月31日
公開日(公表日): 2005年05月26日
要約:
以下の工程を含む、組織を他の組織から識別するために被検組織の誘電特性に基づいて組織を検査する方法およびシステム:内側導体(12)と外側導体(11)を備えたプローブ(10)を被検組織(15)に印加し、ここでプローブがプローブの末端の開放空洞(14)中に引き込まれた被検組織内にフリンジ電界を生成し次いでそこから反射パルスを生成しそのとき無視できる放射線が組織自体に浸透し;前記反射電気パルスを検出し;次いで前記反射電気パルスの電気的特性を前記印加電気パルスの電気的特性と比較して前記被検組織の誘電特性を表示する。
請求項(抜粋):
以下の工程を含む、組織を他の組織から識別するために被検組織の誘電特性に基づいて組織を検査する方法:
電気パルスをプローブを通じて被検組織に印加し、その結果プローブが被検組織内にフリンジ電界を生成し次いでそこから反射パルスを生成しそのとき無視できる放射線が被検組織の近くの他の組織又は生物体に浸透し;
前記反射電気パルスを検出し;
次いで前記反射電気パルスの電気的特性を前記印加電気パルスの電気的特性と比較して前記被検組織の誘電特性を表示する。
IPC (3件):
A61B5/05
, A61B10/00
, G01N22/00
FI (5件):
A61B5/05 B
, A61B10/00 B
, A61B10/00 T
, G01N22/00 S
, G01N22/00 Y
Fターム (7件):
4C027AA06
, 4C027EE01
, 4C027FF01
, 4C027GG09
, 4C027GG16
, 4C027KK03
, 4C027KK05
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