プリント基板の外観検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-080872
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264019
出願日： 2000年03月22日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：

【要約】【課題】比較的低分解能な撮像系で入力された画像を基に、配線端子部分の細り、太り、欠け、曲がり、傾き等の欠陥を正確に検出できるようにすること。【解決手段】IL部特徴抽出手段102は、検査対象の反射輝度レベルを測定しインナーリード(IL)部分の領域を抽出し、ラインプロファイル測定手段103は、ILの幅方向のラインプロファイルを複数箇所で測定する。そして、IL部幅算出手段105は、上記ラインプロファイル測定手段103が測定したラインプロファイルのうち、所定の閾値以上の部分をILの幅プロファイルであると判断し幅寸法を求め、IL幅異常部検出手段106は、IL幅の異常を検出する。また、IL幅中心算出手段107は、求めた幅プロファイルの幅中心位置をパターンの中心位置とし、IL形状異常検出手段108は、この中心位置が各幅プロファイルによって変化する状態からIL形状の異常を検出する。

請求項（抜粋）：

配線端子パターンが形成されたプリント基板を検査対象とする外観検査装置であって、検査対象の反射輝度レベルを測定し配線端子パターン部分の領域を抽出する配線端子パターン抽出手段と、前記配線端子パターン抽出手段が抽出した配線端子パターンの幅方向の輝度分布を複数箇所で測定するプロファイル測定手段と、前記プロファイル測定手段により測定した配線端子パターンの複数の場所の輝度分布に基づき、この配線端子パターンの異常を検出する異常検出手段と、を具備することを特徴とするプリント基板の外観検査装置。

IPC (5件)：

G01B 11/02 , G01B 11/24 , G01N 21/956 , G06T 1/00 305 , H05K 3/00

FI (5件)：

G01B 11/02 H , G01N 21/956 B , G06T 1/00 305 A , H05K 3/00 Q , G01B 11/24 F

Fターム (30件)：

2F065AA17 , 2F065AA22 , 2F065AA56 , 2F065BB02 , 2F065CC01 , 2F065DD06 , 2F065FF42 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065QQ08 , 2F065QQ17 , 2F065QQ21 , 2F065QQ23 , 2F065QQ25 , 2F065QQ42 , 2F065QQ43 , 2G051AA65 , 2G051AB02 , 2G051CA04 , 2G051EA11 , 2G051EB01 , 2G051EC02 , 2G051EC03 , 2G051ED01 , 5B057AA03 , 5B057DA03 , 5B057DA08 , 5B057DB02 , 5B057DB09 , 5B057DC23

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