特許

J-GLOBAL ID：200903068574493195

半導体集積回路およびスキャンライン診断方法

発明者： 河合 秀樹
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 池内 寛幸 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-021464
公開番号（公開出願番号）：特開2002-228717
出願日： 2001年01月30日
公開日（公表日）： 2002年08月14日
要約：

【要約】【課題】 スキャンライン診断方法において、ノーマルモードでは通常に動作する半導体デバイスにおける単一の故障箇所を簡易な構成で特定する。【解決手段】 スキャン設計されレジスタとして動作する複数のフリップフロップ6〜8を含むスキャンチェーン、組合せ回路1、組合せ回路の出力信号と組合せ回路の出力信号を反転した反転信号とを外部信号で切り替え可能な第1のセレクタ13〜15、第1のセレクタの出力信号とスキャンチェーンの信号とを外部信号で切り替え可能な第2のセレクタ3〜5、および通常動作でフリップフロップに予め期待値を設定した後に、期待値をスキャンモードでフリップフロップのスキャンチェーン側の出力端子へ伝搬させて外部に出力するスキャンアウト出力手段10を有する半導体集積回路で、期待値とスキャンアウト出力手段からの出力値とを比較することにより、スキャンチェーン上の故障箇所を特定する。

請求項（抜粋）：

スキャン設計されレジスタとして動作する複数のフリップフロップを含むスキャンチェーンと、組合せ回路と、前記組合せ回路の出力信号を反転させるインバータと、前記組合せ回路の出力信号と前記インバータからの反転信号とを外部信号で切り替え可能な第1のセレクタと、前記フリップフロップの入力信号として前記第1のセレクタの出力信号と前記スキャンチェーンの信号とを外部信号で切り替え可能な第2のセレクタと、前記第2のセレクタを、そこから前記第1のセレクタの出力信号が出力される通常動作モードに切り替えて、前記フリップフロップに予め期待値を設定した後に、前記第2のセレクタを、そこから前記スキャンチェーンの信号が出力されるスキャンモードに切り替えて、前記期待値を前記フリップフロップのスキャンチェーン側の出力端子へ伝搬させて外部に出力するスキャンアウト出力手段とを備えたことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/3185 ,  G06F 11/22 360

FI (3件)：

G06F 11/22 360 P ,  G01R 31/28 G ,  G01R 31/28 W

Fターム (12件)：

2G032AA00 ,  2G032AB03 ,  2G032AC03 ,  2G032AC10 ,  2G032AD08 ,  2G032AK14 ,  2G032AK16 ,  5B048AA20 ,  5B048CC02 ,  5B048CC18 ,  5B048DD05 ,  5B048FF02