特許
J-GLOBAL ID：200903068618822051
塗膜劣化測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 強 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-250928
公開番号（公開出願番号）：特開平6-102218
出願日： 1992年09月21日
公開日（公表日）： 1994年04月15日
要約：
【要約】【目的】 被測定部位が複数ある場合でも、インピーダンスの測定を短時間でなし得るような塗膜劣化測定方法を提供する。【構成】 電極,ゲル含浸用部材をケース12内に収容してインピーダンス測定用プローブ11を設け、ゲル含浸用部材をケース12(a)内に収容してゲル浸透用プローブ20を設ける。そして、複数の被測定部位夫々に、ゲル浸透用プローブ20を略同時にセットして導電性ゲルを浸透させ、この後、ゲル浸透用プローブ20-aをインピーダンス測定用プローブ11と交換して、該被測定部位のインピーダンスを測定し、次に、ゲル浸透用プローブ20-bをインピーダンス測定用プローブ11と交換して、該被測定部位のインピーダンスを測定するといった具合に、ゲル浸透用プローブ20を順次インピーダンス測定用プローブ11と交換して、各被測定部位のインピーダンスを順次測定する。
請求項（抜粋）：
導電性ゲルが含浸されたゲル含浸用部材の一端面を塗膜に密着させ、前記ゲル含浸用部材の他端面を電極に密着させ、前記塗膜が塗布された素地金属と前記電極との間に交流電圧を印加することにより前記塗膜のインピーダンスを測定し、そのインピーダンスから前記塗膜の劣化度合いを診断する塗膜劣化測定方法において、前記電極および前記ゲル含浸用部材をケース内に収容してなるインピーダンス測定用プローブと、前記ゲル含浸用部材をケース内に収容してなる複数のゲル浸透用プローブとを用い、前記塗膜における複数の被測定部位夫々に、前記ゲル浸透用プローブをセットして前記導電性ゲルを浸透させ、この後、前記ゲル浸透用プローブを前記インピーダンス測定用プローブと順次交換して、各被測定部位のインピーダンスを順次測定するようにしたことを特徴とする塗膜劣化測定方法。
IPC (4件)：
G01N 27/02
, G01R 27/02
, B05D 1/00
, B05D 3/14
