特許
J-GLOBAL ID：200903068657804885
センサーの構成及び該センサー構成による測定値の検出法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木下 洋平
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-510526
公開番号（公開出願番号）：特表平10-500218
出願日： 1995年09月21日
公開日（公表日）： 1998年01月06日
要約：
【要約】本発明は,少なくとも1つの検出コイル(2)と、前記検出コイル(2)用の少なくとも1つの電圧源(3)と、検出、処理、測定信号評価手段を具えた評価ユニット(4)とを含むセンサー構成(1)に関する。センサー構成(1)は影響を与える量と測定値の間の物理数学的な関連性を使用者が知る必要なしに披見材料とは実質的に独立して距離及び厚みを測定するために使用される。測定信号を評価するため、センサー構成の評価ユニット(4)は入力層と、少なくとも1つの隠蔽層と、出力層と、個々の層についての接続重みを有するニューラルネットワーク(5)を含む。接続重みは既知の実際の値を有する複数の異なる適当な学習対象についての測定によって学習フェーズにおいて決定され記憶される。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの測定コイル(2)と、前記測定コイル(2)用の少なくとも1つの電圧源(3)と、測定信号を検出、処理、評価するための手段を有する評価ユニット(4)を具えたセンサー構成(1)であって、 前記測定信号を評価するための前記評価ユニット(4)が、入力層と、少なくとも1つの隠蔽層と、出力層と、個々の層についての接続重みを有するニューラルネットワーク(5)を含むことと、前記接続重みは既知の実際の値を有する複数の異なる適当な学習対象についての測定によって学習フェーズにおいて決定され記憶されることを特徴とする、センサー構成。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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