特許
J-GLOBAL ID：200903068663233989
マーク検出方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
折寄 武士
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-042371
公開番号（公開出願番号）：特開平8-022506
出願日： 1995年02月06日
公開日（公表日）： 1996年01月23日
要約：
【要約】【目的】 マーク16から発生される蛍光30の検出条件の劣化にもかかわらず、マーク形成位置の検出を的確に行なえる様にする。【構成】 マーク16上を断続的に光17を照射しながら走査させるとともに、走査位置から放出される光18を取り込んで、光電変換手段12により電気信号に変換する。変換された信号は更に、蛍光強度検知手段13において照射光17と同期させて入力波形の変化を検出することにより蛍光成分に対応した検出値19を取り出す一方、入射強度検知手段8において入射光18の変化に比例して増減する比較値20を個別に検出するとともに、信号入力判定手段15で有為の信号入力が確認された期間に対応し、マーク判定手段14において検出値19と比較値20の大きさを比べ、検出値19が比較値20を超えるとマークの形成位置と判定する。
請求項（抜粋）：
任意の媒体上に蛍光物質をもって形成されたマークに対して光を照射し、そのマークから発生される蛍光を検出してマークの形成位置を検出する方法であって、その強さが略一定の光を断続的に照射する光照射工程と、光の照射位置から放出される光を入射光として取り込んで電気信号に変換する光電変換工程と、変換された電気信号から、入射光中における蛍光成分の変化に対応する大きさの電気信号を検出値として取り出す蛍光強度検知工程と、上記した検出値と比較値とを比べ、検出値が比較値を上回るとマークの形成位置であると判定するマーク判定工程とを備えたマーク検出方法。
IPC (3件)：
G06K 7/12
, B42D 15/10 501
, G06K 19/06
