特許

J-GLOBAL ID：200903068701754416

表示装置、及び、表示装置の検査方法

発明者： 藤田 宏之 ,  松下 克樹
出願人/特許権者： セイコーインスツルメンツ株式会社
代理人 (1件)： 林 敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-196544
公開番号（公開出願番号）：特開2001-075501
出願日： 2000年06月29日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：

【要約】【課題】 表示素子の形成後に無電解メッキ処理を行う場合、LCD組み立て後にメッキ処理する際に、接続端子部でショートが発生しやすかった。【解決手段】 接続電極部の両サイドの端子の外側にダミーパターンを設る。絶縁基板の段差部のパターンが通る部位では接続電極部のパターンが絶縁基板の端面に垂直に設ける。ショート検査用のプローブの当たるパッドを直線状に設ける構成とする。ショート検査の際は、直線状のパッドに直線状のプローブを当てて検査を行う。

請求項（抜粋）：

表示電極と配線電極が形成された絶縁基板と、前記絶縁基板に対向して配置された対向基板と、 前記絶縁基板と前記対向基板との間隙に封入された表示材料と、を備える表示装置であって、前記配線電極はメッキ処理によりメタライズされるとともに、前記対向基板の外形と前記配線電極が交差する部分の配線電極の全てが前記対向基板の外形線に対して垂直に配線されていることを特徴とする表示装置。

IPC (5件)：

G09F 9/30 330 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1345 ,  G09F 9/00 348 ,  G09F 9/00 352

FI (5件)：

G09F 9/30 330 Z ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1345 ,  G09F 9/00 348 G ,  G09F 9/00 352