特許
J-GLOBAL ID:200903068702615096

光散乱体の測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 竹本 松司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-176525
公開番号(公開出願番号):特開平10-019766
出願日: 1996年07月05日
公開日(公表日): 1998年01月23日
要約:
【要約】【課題】 光散乱体の測定装置において、測定用プローブが浮いたりはずれた場合のレーザー光による障害を低減して安全性を向上させる。また、測定用プローブの一時的な浮きやはずれに対して、測定を自動再開する。【解決手段】 光を被検体に照射する光発光部21と、光を検出する受光部22,23とを一体化した測定用プローブ20と、光の照射を制御する光制御手段18,19と、受光部によって得られる検出信号を信号処理する信号処理手段16,17,11を備え、信号処理手段によって外乱光の入射状態を検出し、外乱光の入射に応じて光制御手段によって光の照射状態を変更するものであり、これによって、測定用プローブが浮いたりはずれた場合のレーザー光による障害を低減して安全性を向上させることができ、測定用プローブの一時的な浮きやはずれに対して、測定の自動的な再開を可能とする。
請求項(抜粋):
光を被検体に照射する光発光部と、光を検出する受光部とを一体化した測定用プローブと、前記光の照射を制御する光制御手段と、前記受光部によって得られる検出信号を信号処理する信号処理手段を備え、前記信号処理手段は外乱光の入射状態を検出し、前記光制御手段は該外乱光の入射に応じて光の照射状態を変更することを特徴とする光散乱体の測定装置。
IPC (2件):
G01N 21/27 ,  A61B 5/14 310
FI (2件):
G01N 21/27 B ,  A61B 5/14 310
引用特許:
審査官引用 (2件)

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