特許

J-GLOBAL ID：200903068715198389

レーザー光源の寿命判定方法

発明者： 正木 功 ,  柳 茂知 ,  荒井 茂
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 山谷 晧榮
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-047115
公開番号（公開出願番号）：特開平5-250715
出願日： 1992年03月04日
公開日（公表日）： 1993年09月28日
要約：

【要約】【目的】 光ディスク装置等において使用されるレーザー光源の寿命を判定するレーザー光源の寿命判定方法に関し、装置の個々にバラツキがあっても、寿命判定精度を向上することを目的とする。【構成】 電流に応じた光パワーを発生するレーザー光源100と、該レーザー光源の電流値を設定する制御部44とを有し、該レーザー光源100の照射光によって、所望の動作を行う装置において、該制御部44に、不揮発性メモリ45を設け、予め、該制御部44により、電流値を変化させて、該レーザー光源100の光パワーが所定値となるよう発光調整して、該調整値を初期値として該不揮発性メモリ45に格納しておき、装置の動作時の発光調整の際に、該不揮発性メモリ45の初期値を読み出し、該発光調整の調整値との比較により、該レーザー光源100の寿命を判定する。

請求項（抜粋）：

電流に応じた光パワーを発生するレーザー光源(100)と、該レーザー光源の電流値を設定する制御部(44)とを有し、該レーザー光源の照射光によって、所望の動作を行う装置において、該制御部(44)に、不揮発性メモリ(45)を設け、予め、該制御部(44)により、電流値を変化させて、該レーザー光源(100)の光パワーが所定値となるよう発光調整して、該調整値を初期値として該不揮発性メモリ(45)に格納しておき、装置の動作時の発行調整の際に、該不揮発性メモリ(45)の初期値を読み出し、該発光調整の調整値との比較により、該レーザー光源(100)の寿命を判定することを特徴とするレーザー光源の寿命判定方法。

IPC (2件)：

G11B 7/125 ,  G01M 11/00

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開平3-183181
  
• 特開平2-094036
  
• 特開平3-232287
  
• 特開昭61-141465
  
• 特開平2-173803