特許
J-GLOBAL ID：200903068746707869
X線異物検査装置及びそれに用いられるX線異物検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
板谷 康夫
, 田口 勝美
, 水田 愼一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-082017
公開番号（公開出願番号）：特開2009-236637
出願日： 2008年03月26日
公開日（公表日）： 2009年10月15日
要約：
【課題】X線異物検査装置において、微細な異物を検出可能とする。【解決手段】X線検査画像メモリ11がX線エリアセンサ6から出力されたX線検査画像データを記憶し、基準良品画像メモリ12が異物の有無を判定するための基準良品画像データを記憶する。画像除算演算処理器13が、X線検査画像データから基準良品画像データを除算処理することにより、異物の画像データを算出し、異物判定処理器14が画像除算演算処理器13によって算出された異物の画像データに基づいて異物の有無を判定する。画像除算演算処理器13が行なう除算処理によって検査対象物の材質又は形状に起因するノイズが除去され、異物に関する高品位なX線画像を取得できるので、微細な異物が検出可能になる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
X線を出射するX線源と、
前記X線源から出射され検査対象物を透過した後入射したX線を電荷に変換し、検査対象物のX線検査画像データとして出力するX線撮像手段と、
前記X線撮像手段によって出力されたX線検査画像データを記憶するX線画像記憶手段と、
異物の有無を判定するための基準となる基準良品画像データを記憶する基準良品画像記憶手段と、
前記X線画像記憶手段によって記憶された検査対象物のX線検査画像データから前記基準良品画像記憶手段によって記憶された基準良品画像データを除算処理することにより、除算画像データを算出する除算演算手段と、
前記除算演算手段によって算出された除算画像データに基づいて、検査対象物内の異物の有無を判定する異物判定手段とを備えたことを特徴とするX線異物検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (18件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA06
, 2G001FA08
, 2G001FA30
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001KA03
, 2G001PA11
, 5B057AA02
, 5B057BA03
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC22
, 5B057DC32
