特許
J-GLOBAL ID：200903068771365093
高周波特性測定用治具
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-188673
公開番号（公開出願番号）：特開平5-036772
出願日： 1991年07月29日
公開日（公表日）： 1993年02月12日
要約：
【要約】【目的】 被測定部品の一面側に接触する固定用部材をなくし、実装状態に極めて近い状態で高周波特性を測定しうるようにする。【構成】 誘電体基板1と、この誘電体基板1上に形成された信号ライン2と、誘電体基板1上で信号ライン2の両側に平行間隔をおいて形成された接地導体3とを備えてなる高周波特性測定用治具であって、信号ライン2の幅方向中央部と、接地導体3の被測定部品端子Tbの接触個所とのそれぞれには真空吸着用の吸引孔5,6が開設されている。
請求項（抜粋）：
誘電体基板(1)と、この誘電体基板(1)上に形成された信号ライン(2)と、誘電体基板(1)上で信号ライン(2)の両側に平行間隔をおいて形成された接地導体(3)とを備えており、信号ライン(2)の幅方向中央部と、接地導体(3)の被測定部品端子(Tb)の接触個所とのそれぞれに、真空吸着用の吸引孔(5,6)が開設されていることを特徴とする高周波特性測定用治具。
IPC (2件)：
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