特許
J-GLOBAL ID：200903068781786976
ガス分析計およびガス分析機構
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-354288
公開番号（公開出願番号）：特開平7-190931
出願日： 1993年12月31日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 シングルセル方式で2成分以上を同時に検出できるガス分析計、および、クロスモジュレーション・シングルセル方式において、2成分以上を同時に検出するのに好適なガス分析機構を得ること。【構成】 2つの測定セル2,3、この各測定セルごとにその一端側に設けられた光源4,5、同じく各測定セル2,3ごとにその他端側に測定成分の検出に妨害となる干渉ガス成分を封入して設けられたガスフィルタセル6,7、この2つのガスフィルタセルにそれぞれ内蔵されたビームスプリッター8,9およびこの各ビームスプリッターごとに透過位置側と反射位置側にそれぞれ設けられた第1,第4検出器10,13、第2,第3検出器11,12からなるガス分析計ユニットと、ロータリバルブ1に接続されたサンプリング装置Q1 とからなる。
請求項（抜粋）：
試料ガスが導入されるセルの一端側に光源を設ける一方、セルの他端側に測定成分の検出に妨害となる干渉ガス成分を封入してなるガスフィルタセルを設け、このガスフィルタセルにビームスプリッターを内蔵して、該ビームスプリッターの透過位置側と反射位置側にそれぞれ検出器を設けたことを特徴とするガス分析計。
IPC (2件)：
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