特許
J-GLOBAL ID：200903068786947528
診断支援システムおよび診断支援方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-206621
公開番号（公開出願番号）：特開平8-066392
出願日： 1994年08月31日
公開日（公表日）： 1996年03月12日
要約：
【要約】【目的】断層像から陰影を正しく抽出できるようにすること。【構成】被検体の投影データ(DT1) を収集し該DT1 より断層像を再構成して診断に供する画像診断装置よりDT1 を得てこれを再構成し断層像(P1)を得、P1から陰影を抽出するシステムにおいて、P1の濃度データ値を値の低い所望の第1閾値を以て切り出し注目画像(P2)として得る第1処理機能、P2につきその形状等の特徴量から陰影か否かを判定する第1判定機能、P1の濃度データ値を値の高い所望の第2閾値を以て切り出し注目画像(P3)として得る第2処理機能、このP3についてその形状等の特徴量から陰影の候補となるか否かを判定する候補判定機能、候補と判定された注目画像について所定の倍率の拡大断層像を得、これを第1閾値を以て切り出し注目画像(P4)として得る第2処理機能、該P4につきその形状等の特徴量から陰影か否かを判定する第2判定機能とを有する処理手段21を具備する。
請求項（抜粋）：
被検体の投影データを収集し、前記投影データより断層像を再構成して診断に供する画像診断装置より、前記投影データを得て、これを再構成し断層像を得ると共に、この断層像から陰影を抽出する診断支援システムにおいて、前記再構成して得た断層像の濃度データ値を、濃度データ値の低い所望の第1の閾値を以て切り出し、注目画像として得る第1の処理機能と、切り出した注目画像についてその形状等の特徴量から陰影か否かを判定する第1の判定機能と、前記断層像の濃度データ値を、濃度データ値の高い所望の第2の閾値を以て切り出し、注目画像として得る第2の処理機能と、この切り出した注目画像についてその形状等の特徴量から陰影の候補となるか否かを判定する候補判定機能と、候補と判定された注目画像について、投影データからズーミングにより再構成して所定の倍率の拡大断層像を得、これを第1の閾値を以て切り出し、注目画像として得る第2の処理機能と、この第2の処理機能により切り出した注目画像についてその形状等の特徴量から陰影か否かを判定する第2の判定機能とを有する処理手段を具備することを特徴とする診断支援システム。
IPC (5件)：
A61B 6/03 360
, A61B 5/055
, A61B 6/00
, G06T 1/00
, G06T 7/00
A61B 5/05 380
, A61B 6/00 350 D
, G06F 15/62 390 B
, G06F 15/70 320
