特許

J-GLOBAL ID：200903068838263347

液晶表示パネルの検査方法

発明者： 助則 英智 ,  中川 裕介
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-307300
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160898
出願日： 1992年11月17日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：

【要約】【目的】 走査電極間の短絡障害を検査する液晶表示パネルの検査方法に関し、走査電極間の短絡を高精度でかつ、容易に検出できることを目的とする。【構成】 検査時に液晶表示パネル11の走査電極12cに走査線毎に交互に位相の異なる駆動信号を供給する検査制御回路16を接続し、液晶表示パネル11の輝度を目視する。短絡が生じている部分では輝度が高くなるため、液晶表示パネル11の輝度を見ることにより短絡の有無及びその位置を認識できる。

請求項（抜粋）：

コモン電極(13b)が形成されたコモン電極基板(13)と、画素電極(12a)及び該画素電極(12a)にスイッチング素子(12b)を介して接続され、該画素電極(12a)に走査ライン毎に電圧を印加する複数の走査電極(12c)が形成された画素電極基板(12)とで液晶(15)を挟持してなる液晶表示パネル(11)で、該複数の走査電極(12c)間の短絡を検査する液晶表示パネルの検査方法において、前記複数の走査電極(12c)には奇数走査ラインと偶数走査ラインとで位相の異なる駆動信号を夫々の走査電極の両端(Ta,Tb)に供給して、前記スイッチング素子(12b)を順次オンすることにより、前記液晶表示パネル(11)を駆動させ、前記液晶表示パネル(11)の輝度を検出することにより前記走査電極間の短絡を検査することを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。

IPC (3件)：

G02F 1/136 500 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/13 101