特許

J-GLOBAL ID：200903068848539197

垂直加速型飛行時間型質量分析装置

発明者： 田村 淳 ,  藤巻 奨
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-199857
公開番号（公開出願番号）：特開2001-028253
出願日： 1999年07月14日
公開日（公表日）： 2001年01月30日
要約：

【要約】【課題】イオンパルスがTOF分光部に対して斜めに入射する場合でも、厚みの薄い静電セクター電場を用いることのできるOA-TOFMSを提供する。【解決手段】外部イオン源からイオンを導入するイオン溜と、該イオン溜からイオンをパルス的に取り出して加速するイオン加速部と、加速されたイオンパルスが所定距離を飛行した後入射するイオン検出器と、イオン溜から取り出されたイオンパルスがイオン検出器に到達するまでの時間を計測する飛行時間型分光部と、飛行時間型分光部の内部に設置された静電セクター電場とから成る垂直加速型飛行時間型質量分析装置において、前記イオン溜から取り出されたイオンが前記静電セクター電場を通過する際、該イオンが静電セクター電場の回転軸に直交する平面上を移動するように、前記静電セクター電場を前記イオン加速部に対して斜めに配置した。

請求項（抜粋）：

外部イオン源からイオンを導入するイオン溜と、該イオン溜からイオンをパルス的に取り出して加速するイオン加速部と、加速されたイオンパルスが所定距離を飛行した後入射するイオン検出器と、イオン溜から取り出されたイオンパルスがイオン検出器に到達するまでの時間を計測する飛行時間型分光部と、飛行時間型分光部の内部に設置された静電セクター電場とから成る垂直加速型飛行時間型質量分析装置において、前記イオン溜から取り出されたイオンが前記静電セクター電場を通過する際、該イオンが静電セクター電場の回転軸に直交する平面上を移動するように、前記静電セクター電場を前記イオン加速部に対して斜めに配置したことを特徴とする垂直加速型飛行時間型質量分析装置。

IPC (2件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62

FI (2件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 K

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特表平3-503815
  
• 多段式飛行時間型質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-142786   出願人：日本電子株式会社
• 特表平3-503815