特許

J-GLOBAL ID：200903068858296616

部品検査装置

発明者： 加藤 隆幸 ,  鷲見 和正 ,  山田 鉄夫 ,  武田 正博 ,  安井 永仁 ,  小松 嘉久
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所 ,  愛知製鋼株式会社
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-331486
公開番号（公開出願番号）：特開平8-160015
出願日： 1994年12月09日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：

【要約】【目的】 小物部品の微小疵や凹凸部形状を高感度、高S/N比で検査する。【構成】 リング状コア21に、外周面の開口幅が内周面の開口幅より狭くなるようなギャップ25を設けるとともに、そのコア21に1つの励磁コイル22と2つの検出コイル23、24を巻いたものを検査コイル2とし、これを被検査部品に近接配置する。そして、発振器よりその励磁コイルに交流電流を供給し、被検査部品に渦電流を生起させ、位相検波回路により、この渦電流により2つの検出コイルに誘起される電圧信号の位相を検波する。位相検波回路の出力信号に対して、移相回路により、高周波成分程位相を大きく変化させ、位相検波回路の出力信号と移相回路の出力信号とを減算する。この減算回路の出力を、被検査部品の検査結果として判定し、表示器に表示する。

請求項（抜粋）：

被検査部品と検査コイルとを近接位置で相対移動させ、電磁誘導法によって部品を検査する装置であって、a)外周面の開口幅が内周面の開口幅より狭くなるようなギャップを有するリング状コアに1つの励磁コイルと2つの検出コイルが巻かれ、被検査部品に近接配置された検査コイルと、b)該励磁コイルに交流電流を供給する発振器と、c)該2つの検出コイルに誘起する電圧信号の位相を検波する位相検波回路と、d)該位相検波回路の出力信号に対して、高周波成分程位相を大きく変化させる移相回路と、e)前記位相検波回路の出力信号と移相回路の出力信号との差を算出する減算回路と、f)減算回路の出力に基づき被検査部品の検査結果を判定する判定回路と、を備えることを特徴とする部品検査装置。