特許
J-GLOBAL ID:200903068864987833

クロマトグラフ質量分析用データ処理装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-188539
公開番号(公開出願番号):特開平10-019849
出願日: 1996年06月28日
公開日(公表日): 1998年01月23日
要約:
【要約】【課題】 クロマトグラム上のピーク成分の合成マススペクトルやその解析データを効率的に採取し、且つ、利用できるデータ処理装置を提供する。【解決手段】 ピーク検出部が自動的にクロマトグラムのピークを順次検出すると、前処理部は検出されたピーク成分の合成マススペクトルを生成し、解析処理部はこの合成マススペクトルに対してパターンマッチング等の解析処理を行なう。合成マススペクトルのデータ及びその解析データは、相互に関連づけられて解析データ記憶部に格納される。
請求項(抜粋):
a)測定により得られたデータが格納される測定データ記憶部と、b)測定データに基づいてクロマトグラムを生成し、該クロマトグラム上のピークを自動的に検出するピーク検出部と、c)ピーク検出部により検出されたピーク成分の測定データに対してバックグラウンド消去や平均化等の前処理を行なって合成マススペクトルを生成する前処理部と、d)上記合成マススペクトルに対してパターンマッチング等の解析処理を行なう解析処理部と、e)合成マススペクトルのデータや解析処理の結果を示す解析データが格納される解析データ記憶部と、f)解析データ記憶部へのデータの格納及び解析データ記憶部からのデータの読出を行なうための解析データ入出力部と、を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。
IPC (4件):
G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  G01N 30/86 ,  H01J 49/26
FI (6件):
G01N 27/62 D ,  G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 X ,  G01N 30/72 Z ,  G01N 30/86 G ,  H01J 49/26
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平3-274647
  • 特開昭59-137854

前のページに戻る