特許

J-GLOBAL ID：200903068903632274

ランス不良検出方法及びその構造

発明者： 鈴木 賢哉 ,  兒玉 晋司
出願人/特許権者： 矢崎総業株式会社
代理人 (1件)： 萩野 平 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-162271
公開番号（公開出願番号）：特開平8-031493
出願日： 1994年07月14日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】 コネクタハウジングへの端子挿入の際に不良ランスを容易に検知することができるランス不良検出方法及びその構造を提供する。【構成】 ランス不良検出構造25は、成形不良によりランス21先端のビーク部5が欠損している場合、端子9先端によるランス21の変位が不能となる。これにより、端子9に形成された係止片17と干渉する位置関係に配設されたランス21側面のサイドビーク23後端縁の挿入阻止面23cが係止片17の前端縁17aに当接する。よって、端子9の端子収容室1への挿入が阻止され、疑似係止状態とならず、明らかな未挿入状態となって、ランス成形不良を容易に検知することができる。

請求項（抜粋）：

コネクタハウジングの端子収容室に端子を挿入することにより前記端子収容室内に突出されたランスの不良を検知するランス不良検出方法であって、前記端子の前記端子収容室への挿入時、前記ランス先端が変位不可の状態の場合、前記ランスの所定位置に形成されたサイドビークにより前記端子の挿入が阻止されることで前記ランス端部の不良が検知されることを特徴とするランス不良検出方法。