特許
J-GLOBAL ID:200903068912550906

探傷データ評価装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐藤 正年 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-103914
公開番号(公開出願番号):特開平5-281199
出願日: 1992年03月31日
公開日(公表日): 1993年10月29日
要約:
【要約】【目的】 探傷データを自動的に評価でき、データの分析・評価効率と精度を向上させることのできる探傷データ評価装置及び方法を提供する。【構成】 探傷器1からの測定信号は、演算手段2でパラメータ化されて第1ニューラルネットワーク3に入力され、欠陥、打痕傷、付着物の判定がなされる。欠陥と判定された信号については、第2ニューラルネットワーク4で欠陥の定量評価(周方向/軸方向、内面/外面の分類、大きさ、深さなど)がなされる。S/N比が小さく判定が困難な信号については、ノイズ分離の学習を施した第3ニューラルネットワーク5で定量評価される。第3ニューラルネットワーク5でも判定困難な場合はグレー信号が出力される。
請求項(抜粋):
探傷手段からの測定信号を分析して被検査物の欠陥及び/又は付着物の発生状態を評価する評価手段を有する探傷データ評価装置であって、前記評価手段として、所定の応答関数f(X)をもつ複数の処理ユニットが所定の重み係数Wi で結合され、かつ前記重み係数は与えられた学習データによって最適化がなされるニューラルネットワークシステムを備えたことを特徴とする探傷データ評価装置。
IPC (3件):
G01N 27/90 ,  G06F 9/44 330 ,  G21C 17/003
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平1-116869
  • 特公平4-010986
  • 特開平1-243169

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