特許

J-GLOBAL ID：200903068913356950

X線回折動的測定装置

発明者： 後藤 千寿子 ,  下村 順一
出願人/特許権者： 川崎製鉄株式会社
代理人 (1件)： 小林 英一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-224336
公開番号（公開出願番号）：特開平7-077503
出願日： 1993年09月09日
公開日（公表日）： 1995年03月20日
要約：

【要約】【目的】 金属、セラミックス、磁性材料など種々の材料における熱処理、機械的処理、化学反応などで変化する材料の結晶構造の変化過程を逐次動的に測定することが可能なX線回折動的測定装置を提供する。【構成】 X線源1と湾曲結晶からなる入射モノクロメータ3とギニエカメラ4とから構成されて試料Sに集中ビームを照射して生じる回折X線2bをフィルム状X線検出器6で検出するX線回折測定装置において、試料Sを処理する試料処理装置10を備えるとともに、フィルム状X線検出器6は半円筒形状とされ、該フィルムを一定距離送るフィルム自動送り機構11を設けたことにより、試料Sに熱処理、機械的加工、化学反応などを与える過程で生じる経時的なX線回折パターンの変化を捉えて結晶構造の変化を動的に追跡することを可能にする。

請求項（抜粋）：

X線源と湾曲結晶からなる入射モノクロメータとギニエカメラとから構成されて試料に集中ビームを照射して生じる回折X線をフィルム状X線検出器で検出するX線回折測定装置において、前記試料を処理する試料処理装置を備え、前記フィルム状X線検出器は半円筒形とされるとともに、該フィルムを一定距離送るフィルム自動送り機構を設けたことを特徴とするX線回折動的測定装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-196554
  
• 特開平1-202649
  
• 特公昭29-005766
  
• 特開昭58-035446