特許

J-GLOBAL ID：200903068940006014

タイミング発生装置

発明者： 鶴木 康隆
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-254607
公開番号（公開出願番号）：特開平6-109812
出願日： 1992年09月24日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：

【要約】【目的】 IC試験装置に用いられるタイミング発生装置の回路規模を小さくし、簡素な構成のタイミング発生装置を提供する。【構成】 試験パターン信号の周期を規定する周期値と、ICの各端子に与える試験パターン信号の位相を規定する遅延値とが予め組み合わせられて構成されたタイミングセットをメモリから読み出してタイミング信号を生成するタイミング発生器10において、周期値メモリ11は試験に必要とする数の周期値のみを記憶し、この周期値をの記憶したアドレスを周期スクランブルメモリ15に記憶させ、タイミングセットデータTS1 〜TSn により周期スクランブルメモリ15をアクセスし、周期スクランブルメモリ15から読み出したアドレスにより周期値メモリ11から周期データを読み出すと共に、遅延値メモリ12から各端子ごとの遅延値を読み出すように構成したタイミング発生装置。

請求項（抜粋）：

被試験ICの各端子に与えるテストパターン信号の各テストサイクルごとの周期値と、立上り及び立下りのタイミングを規定する遅延値とを周期値メモリ及び遅延値メモリから読み出し、それぞれの値を周期発生部と遅延発生部に与えてテストパターン信号の周期及び立上り及び立下りのタイミングを制御できるように構成したタイミング信号を生成するタイミング発生装置において、上記周期値メモリを試験に必要な周期値の数に対応した数のアドレスを具備するメモリによって構成し、この周期値メモリをテストサイクルごとに周期スクランブルメモリから読み出されるアドレス信号によってアクセスし、各テストサイクルごとの周期値を得るように構成したことを特徴とするタイミング発生装置。