特許
J-GLOBAL ID:200903068942810457

画像診断支援装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井島 藤治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-307104
公開番号(公開出願番号):特開2002-112986
出願日: 2000年10月06日
公開日(公表日): 2002年04月16日
要約:
【要約】【課題】 本発明は画像診断支援装置に関し、検出する異常陰影の種類に応じて最適な異常陰影検出アルゴリズムを選択できるようにした画像診断支援装置を提供することを目的としている。【解決手段】 被写体を透過した放射線画像上の異常陰影候補を検出する複数の異常陰影検出アルゴリズムを具備する異常陰影検出手段6と、検出目的に応じて前記異常陰影検出アルゴリズムを1つ若しくは複数個選択するアルゴリズム選択手段とを有して構成する。
請求項(抜粋):
被写体を透過した放射線画像上の異常陰影候補を検出する複数の異常陰影検出アルゴリズムを具備する異常陰影検出手段と、検出目的に応じて前記異常陰影検出アルゴリズムを1つ若しくは複数個選択するアルゴリズム選択手段とを有することを特徴とする画像診断支援装置。
IPC (3件):
A61B 6/00 ,  G06T 1/00 290 ,  H04N 7/18
FI (3件):
G06T 1/00 290 A ,  H04N 7/18 L ,  A61B 6/00 350 D
Fターム (25件):
4C093AA26 ,  4C093CA18 ,  4C093DA06 ,  4C093FF16 ,  4C093FF17 ,  4C093FF19 ,  4C093FF50 ,  4C093FG04 ,  4C093FG20 ,  5B057AA08 ,  5B057CH11 ,  5B057CH18 ,  5B057DA03 ,  5B057DC22 ,  5C054AA01 ,  5C054AA06 ,  5C054CA02 ,  5C054CC01 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054EA07 ,  5C054EG01 ,  5C054GA01 ,  5C054GB01 ,  5C054HA12
引用特許:
審査官引用 (3件)

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