特許

J-GLOBAL ID：200903069012619044

偏光測定方法及び装置

発明者： 疋田 勝郎 ,  森 祐二 ,  山中 武志
出願人/特許権者： 浜松ホトニクス株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-031659
公開番号（公開出願番号）：特開2000-230863
出願日： 1999年02月09日
公開日（公表日）： 2000年08月22日
要約：

【要約】【課題】 装置のコストを高めることなく且つ測定時間を長くすることなく、偏光状態を精度良く測定する。【解決手段】 測定レンジの広い前処理器を用いることなく、通常は粗い計測間隔で光強度を計測する一方で、計測値が前処理器の測定レンジ外に存在する場合のみ密な計測間隔で、この測定レンジ外に計測値が存在する計測範囲を除外した計測適正範囲を計測する。

請求項（抜粋）：

回転する検光素子を透過して検出器に入射する被測定光の光強度を計測し、この計測値を基に前記被測定光の偏光状態を測定する偏光測定方法において、適当な計測間隔で計測した計測値が、計測系の測定レンジ内に収まる場合には、この計測値を基に被測定光の偏光状態を求め、この計測値の一部が計測系の測定レンジ外に存在する場合には、測定レンジ外に計測値が存在する計測範囲を除外した計測適正範囲を、前記計測間隔より間隔を詰めた計測間隔で計測し、この計測値を基に被測定光の偏光状態を求めることを特徴とする偏光測定方法。