特許
J-GLOBAL ID:200903069053819406

分布型計測装置と分布型計測方法と分布型センサデバイス

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 齋藤 義雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-129364
公開番号(公開出願番号):特開平8-054257
出願日: 1995年04月28日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】【目的】 ブリルアンゲインやブリルアンロスを利用して温度または歪を計測するシステムにおいて、有用性・有益性・経済性・合理性などが高められる分布型計測装置・分布型計測方法・分布型センサデバイスを提供する。【構成】 レーザ光源1からの光が第1光路を経由して光センサファイバ6内に伝送され、レーザ光源1からの光が第2光路を経由して光センサファイバ6内に伝送されるものである。装置の使用中、2つのビームが光センサファイバ6内を反対方向に伝搬させられ、かつ、2つのビームからの光の相互作用で各ビームのうちの1つのパワーがブリルアンロスにより減少させられるか、または、各ビームのうちの1つのパワーがブリルアンゲインにより増加させられる構成である。これらロスまたはゲインは、これらが測定されて光センサファイバ6における温度または歪の指示値を与えるものである。
請求項(抜粋):
光センサファイバにおける温度または歪を測定するための計測装置であって、レーザ光源と、レーザ光源からの光を第1光路および第2光路に導くための複数の手段とからなり、レーザ光源からの光を受信してブリルアン周波数シフトによる周波数の変更によりその光を調整するための第1手段を第1光路が含み、光を光パルスに変換するための第2手段を第1光路または第2光路が含むものにおいて、第1ビームを限定するためにレーザ光源からの光が第1光路を経由して光センサファイバ内に伝送され、第2ビームを限定するためにレーザ光源からの光が第2光路を経由して光センサファイバ内に伝送されるものであること、および、装置の使用中、2つのビームが光センサファイバ内を反対方向に伝搬させられ、かつ、2つのビームからの光の相互作用で各ビームのうちの1つのパワーがブリルアンロスにより減少させられるか、または、各ビームのうちの1つのパワーがブリルアンゲインにより増加させられる構成であること、そしてこれらロスまたはゲインは、これらが測定されて光センサファイバにおける温度または歪の指示値を与えるものであることを特徴とする計測装置。
IPC (5件):
G01D 5/26 ,  G01M 11/00 ,  G02B 6/00 ,  G08C 23/04 ,  H01S 3/00
FI (2件):
G02B 6/00 B ,  G08C 23/00 A

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