特許
J-GLOBAL ID：200903069069155672
シリアルスキヤン回路用テストパターンに対する診断率評価方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-241964
公開番号（公開出願番号）：特開平5-080121
出願日： 1991年09月20日
公開日（公表日）： 1993年04月02日
要約：
【要約】【目的】 シリアルスキャン回路を試験するためのテストパターンにて検出できる故障を認識するための診断率評価方法に関し、すべての故障仮定点について故障シミュレーションを行なわなくても故障を認識できるようにしたシリアルスキャン回路用テストパターンに対する診断率評価方法を提供することを目的とする。【構成】 第1の故障検出工程11により、経路を活性化する入力状態値とシリアルスキャン回路のスキャンデータインピンに不定値を入力した状態で真値シミュレーションを行なった後、スキャンチェーンのスキャンデータアウトピンより対応するスキャンデータインピンまで回路の不定値をバックトレースしてスキャンチェーンに関連する故障を検出する。続いて、第2の故障検出工程12により、経路を活性化する入力状態値とシリアルスキャン回路のスキャンクロックピンに不定値を入力した状態で真値シミュレーションを行なった後、スキャンクロック上の不定値をバックトレースしてスキャンクロックに関連する故障を検出する。
請求項（抜粋）：
半導体回路のシリアルスキャン回路が正常に動作するかを試験するためのシリアルスキャン回路用テストパターンが検出できる故障を認識評価する方法において、前記シリアルスキャン回路用テストパターンによって検出できる故障をスキャンチェーンに関連するものとスキャンクロックに関連するものに分け、そのうちの該スキャンチェーンに関連する故障を検出するために、経路を活性化する入力状態値と前記シリアルスキャン回路のスキャンデータインピンに不定値を入力した状態で真値シミュレーションを行なった後、該スキャンチェーンのスキャンデータアウトピンより対応するスキャンデータインピンまで回路の不定値をバックトレースして故障を検出する第1の故障検出工程(11)と、前記スキャンクロックに関連する故障を検出するために、経路を活性化する入力状態値と前記シリアルスキャン回路のスキャンクロックピンに不定値を入力した状態で真値シミュレーションを行なった後、前記スキャンチェーン上の全スキャンFFから前記スキャンクロック上の不定値をバックトレースして故障を検出する第2の故障検出工程(22)とを含むことを特徴とするシリアルスキャン回路用テストパターンに対する診断率評価方法。
IPC (6件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 310
, G06F 11/22 330
, G06F 11/22 360
, G06F 11/26
, G06F 15/60 360
