特許

J-GLOBAL ID：200903069071820195

電子機器及びその診断装置

発明者： 荒井 努
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 土屋 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-191546
公開番号（公開出願番号）：特開2001-021601
出願日： 1999年07月06日
公開日（公表日）： 2001年01月26日
要約：

【要約】【課題】 複数の装置の何れが故障しているのかを的確且つ簡易に診断することができて故障を効率的に修理することができる電子機器及びその診断装置を提供する。【解決手段】 コンピュータ31によって、電子機器11のメモリ21に記憶されている診断データからICチップ12〜14の夫々における故障の有無を診断し、メモリ21に記憶されている不変データと出荷時にメモリ21に記憶されていた不変データとを比較することによってメモリ21における故障の有無を診断する。従って、ICチップ12〜14及びメモリ21の何れが故障しているのかを的確且つ簡易に診断することができる。

請求項（抜粋）：

複数の装置及び記憶装置が備えられており、少なくとも前記複数の装置の夫々における故障の有無を示す診断データと固定的な内容を有する不変データとが前記記憶装置に記憶される電子機器。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 31/28 ,  H04N 5/44 ,  H04N 17/04

FI (5件)：

G01R 31/00 ,  H04N 5/44 Z ,  H04N 17/04 A ,  H04N 17/04 E ,  G01R 31/28 U

Fターム (20件)：

2G032AA07 ,  2G032AE08 ,  2G032AE10 ,  2G032AK19 ,  2G036AA19 ,  2G036AA24 ,  2G036AA25 ,  2G036AA26 ,  2G036AA27 ,  2G036BA13 ,  2G036BA18 ,  2G036BB12 ,  2G036CA06 ,  2G036CA10 ,  5C025BA27 ,  5C025BA30 ,  5C025DA10 ,  5C061BB07 ,  5C061BB20 ,  5C061CC05