特許
J-GLOBAL ID:200903069083415067
共振点とインピーダンス極値点からの劣化診断システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-134846
公開番号(公開出願番号):特開2005-292107
出願日: 2004年03月31日
公開日(公表日): 2005年10月20日
要約:
【課題】運用状態の絶縁物において、絶縁物に可変周波数電源より、周波数を変化させた信号を供給して、周波数に対する絶縁物のインピーダンスを測定することで、絶縁物の内部抵抗とキャパシタンスを求めることより、絶縁物の経年変化による劣化を診断する手段を提供する。【解決手段】運用中の絶縁物に電気的共振用と直流成分を遮断するためのコンデンサーC1、及び、C2を介して、可変周波数電源より高周波電流を印加する。絶縁物の両端の電圧と絶縁物に供給する電流を測定することにより、印加する周波数に応じた絶縁物のインピーダンスが測定できる。測定した周波数に対するインピーダンス、又は、減衰率、及び、位相曲線の極値から、絶縁物内部の抵抗とキャパシタンスを求めることで劣化診断を行う。【選択図】図1
請求項(抜粋):
運用中の絶縁物に、直流成分を遮断するコンデンサC1,C2を介して、可変周波数電源からの信号を与え、絶縁物の両端電圧と絶縁物に供給している電流を測定する回路により、周波数に対する絶縁物のインピーダンスを測定する機能を備えることを特徴とする劣化診断システム。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (19件):
2G028BB05
, 2G028BB06
, 2G028BB12
, 2G028BE04
, 2G028BF01
, 2G028CG02
, 2G028CG08
, 2G028CG10
, 2G028CG12
, 2G028CG13
, 2G028CG19
, 2G028DH04
, 2G028DH11
, 2G028EJ01
, 2G028FK01
, 2G028FK02
, 2G028FK09
, 2G050AA07
, 2G050EB02
引用特許:
審査官引用 (12件)
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特開昭54-162579
-
特開平4-198783
-
交流測定器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-354194
出願人:日置電機株式会社
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