特許
J-GLOBAL ID:200903069108262333

積層セラミックコンデンサ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 豊永 博隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-144279
公開番号(公開出願番号):特開2002-343673
出願日: 2001年05月15日
公開日(公表日): 2002年11月29日
要約:
【要約】【課題】 クラック、デラミネーションを円滑に防止して積層セラミックコンデンサの信頼性を高める。【解決手段】 セラミック層と内部電極とが交互に積層された積層セラミックコンデンサにおいて、上記内部電極が金属の圧延箔からなり、当該圧延箔が上下の各セラミック層間に密着介装される積層セラミックコンデンサである。上記金属の圧延箔は、例えば、多段式圧延機を用いて製造された膜厚0.1〜10μm程度のニッケル圧延箔である。膜厚を厳格に管理された金属の圧延箔をセラミック層間に密着介装するだけなので、導電ペースト方式の積層コンデンサとは異なり、内部応力に起因してクラックやデラミネーションが発生することを良好に防止でき、コンデンサの信頼性を高く保持できる。
請求項(抜粋):
セラミック層と内部電極とが交互に積層された積層セラミックコンデンサにおいて、上記内部電極が金属の圧延箔からなり、当該圧延箔が上下の各セラミック層間に密着介装されることを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
IPC (2件):
H01G 4/30 301 ,  H01G 4/12 361
FI (2件):
H01G 4/30 301 C ,  H01G 4/12 361
Fターム (9件):
5E001AB03 ,  5E001AC09 ,  5E082AB03 ,  5E082BC32 ,  5E082EE03 ,  5E082EE23 ,  5E082EE26 ,  5E082FG26 ,  5E082PP09

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