特許
J-GLOBAL ID:200903069110609774

評価対象の計測装置、状態検出装置、計測方法、状態検出方法および記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 國分 孝悦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-344334
公開番号(公開出願番号):特開2002-148073
出願日: 2000年11月10日
公開日(公表日): 2002年05月22日
要約:
【要約】【課題】 評価対象と計測点とが離れていても、計測点において計測した信号から評価対象の位置における信号を正確に求めることができるようにする。【解決手段】 物理量を直接計測できない評価対象10から出力され、抵抗20を介して計測部30により計測された状態信号に基づいて、演算部40内の逆問題解析部41で評価対象10の評価面における状態信号を求めるための逆問題解析を行うようにして、評価対象10と計測部30とが離れていても、その間にある抵抗20の影響を逆問題解析により取り除いて、評価対象10の評価面における状態信号を正確に算出することができるようにする。
請求項(抜粋):
評価対象から所定の距離だけ離れた計測点で計測した信号に基づいて評価対象の位置における信号を求める評価対象の計測装置であって、上記評価対象から出力され、評価対象と計測点との間の抵抗により減衰された信号を計測点で計測する計測手段と、上記計測手段により計測した信号を用いて、逆問題解析により評価対象の位置における信号を求める演算手段とを備えることを特徴とする評価対象の計測装置。
IPC (4件):
G01D 1/00 ,  B22D 11/16 104 ,  B22D 11/16 ,  G01K 7/02
FI (4件):
G01D 1/00 Z ,  B22D 11/16 104 V ,  B22D 11/16 104 N ,  G01K 7/02 Z
Fターム (4件):
4E004MA05 ,  4E004MC12 ,  4E004MC13 ,  4E004PA07
引用特許:
審査官引用 (3件)

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