特許

J-GLOBAL ID：200903069114196954

磁気ディスクの検査方法及び検査用磁気ヘッド

発明者： 永野 貴範 ,  田畑 敏 ,  正田 光広
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 鈴木 市郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-021940
公開番号（公開出願番号）：特開2002-230745
出願日： 2001年01月30日
公開日（公表日）： 2002年08月16日
要約：

【要約】【課題】 記録密度が20Gb/in2を超える磁気ディスク装置に使用する磁気ディスクの欠陥検査。【解決手段】 記録密度20Gb/in2以上の磁気ディスク装置に使用される磁気ディスク上に検査用磁気ヘッドを浮上させた状態で記録・再生を行い磁気ディスクの欠陥検査を行う検査方法において、磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズと同程度以上の再生トラック幅を有する検査用磁気ヘッドを使用すること。また、磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズの1/(2〜4)以下の線記録密度で欠陥検査を行うこと。

請求項（抜粋）：

記録密度20Gb/in2以上の磁気ディスク装置に使用される磁気ディスク上に検査用磁気ヘッドを浮上させた状態で記録・再生を行い前記磁気ディスクの欠陥検査を行う検査方法において、前記磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズと同程度以上の再生トラック幅を有する検査用磁気ヘッドを使用することを特徴とする磁気ディスクの検査方法。

IPC (3件)：

G11B 5/84 ,  G11B 5/00 ,  G11B 5/31

FI (3件)：

G11B 5/84 C ,  G11B 5/00 D ,  G11B 5/31 Z

Fターム (11件)：

5D033AA02 ,  5D033BA22 ,  5D033BB43 ,  5D033CA10 ,  5D091AA10 ,  5D091FF02 ,  5D091GG33 ,  5D091HH20 ,  5D112AA05 ,  5D112JJ01 ,  5D112JJ06