特許
J-GLOBAL ID:200903069136600244

免疫比濁分析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野口 繁雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-232351
公開番号(公開出願番号):特開平8-075740
出願日: 1994年08月31日
公開日(公表日): 1996年03月22日
要約:
【要約】【目的】 検量線を直線にし、S字形検量線に基づく問題を解決する。【構成】 未知試料を用いた抗原抗体反応液について反応時間t1〜tEの複数の時間で、複数波長λ1〜λnについて吸光度を測定する。プロゾーン現象が起こっていない測定データが得られた段階で、最も短波長側の測定データからその反応後期の吸光度測定値As1がその波長での定量可能判定値AL1以下であるかどうかを判断し、以下であれば検量線から濃度CをC=K1(As1-Ab1)として求めて出力する。短かい波長側の吸光度が定量可能判定値以下でなければそれより長波長側の測定値で定量可能判定値条件を満たすかどうかを判断し、定量可能判定値以下となる吸光度を示した波長のうち最も短かい波長の検量線により分析成分濃度を求める。
請求項(抜粋):
未知試料中の分析成分を抗原抗体反応に基づくその反応液の濁度の変化から定量する免疫比濁分析方法において、標準試料を用いて一定時間反応させた抗原抗体反応液について紫外線領域から近赤外線領域にわたる波長領域での複数の波長で検量線を求め、各波長ごとに直線性が満たされる吸光度の上限値を定量可能判定値として予め定めておき、未知試料を用いて上記の一定時間反応させた抗原抗体反応液について前記複数波長で吸光度を測定し、各波長での吸光度をそれぞれの波長での定量可能判定値と比較して定量可能判定値以下となる波長のうち、最も短波長の検量線により分析成分濃度を求めることを特徴とする免疫比濁分析方法。

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