特許
J-GLOBAL ID:200903069137651799
電解コンデンサの劣化予測方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
岡田 英彦
, 福田 鉄男
, 犬飼 達彦
, 石岡 隆
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-259742
公開番号(公開出願番号):特開2006-078215
出願日: 2004年09月07日
公開日(公表日): 2006年03月23日
要約:
【課題】 簡便で実用的な手順で電源回路の出力電圧の平滑用電解コンデンサの劣化を予測すること。【解決手段】 基準となる時点および前記基準となる時点からN年経過後に測定した電解コンデンサ17の等価直列抵抗17bの値ESRoおよびESRnと、前記基準となる時点および前記基準となる時点からN年経過後の電解コンデンサ17の電解液量VoおよびVnとの関係式 ESRn/ESRo=(Vo/Vn)2 から、前記基準となる時点からN年経過後の電解コンデンサ17の電解液の残存率νn=Vn/Voを算出し、1年当たりの前記電解液の減少率δ=(1-νn)/Nを算出し、ESRnとESRoとの平均値Rを求め、前記電解液の減少の加速因子K=ESRn/Rを定義し、前記基準となる時点からN+1年経過後の電解液の残存率νn+1=νn-δKを予測し、予測したνn+1に対応する等価直列抵抗17bの値ESRn+1を予測する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
電解コンデンサの劣化予測方法であって、基準となる時点に測定した前記電解コンデンサの等価直列抵抗の値ESRoと、前記基準となる時点からN年等のN単位時間経過後に測定した前記電解コンデンサの等価直列抵抗の値ESRnとを測定し、
前記測定したESRoおよびESRnと、前記基準となる時点での前記電解コンデンサの電解液量Voおよび前記基準となる時点からN単位時間経過後の電解コンデンサの電解液量Vnとの関係式
ESRn/ESRo=(Vo/Vn)2
から、前記基準となる時点からN単位時間経過後の電解コンデンサの電解液の残存率νn
νn=Vn/Vo
を算出し、さらに、前記単位時間当たりの前記電解コンデンサの電解液の減少率δを
δ=(1-νn)/N
として算出し、前記ESRnとESRoとの平均値Rを求め、さらに、前記電解液の減少の加速因子Kとして
K=ESRn/R
を定義し、このKを用いて前記基準となる時点からN+1単位時間経過後の前記電解液の残存率νn+1を
νn+1=νn-δK
として予測し、予測したνn+1を用いて前記基準となる時点からN+1単位時間経過後の前記電解コンデンサの等価直列抵抗の値ESRn+1を
ESRn+1=ESRo(1/νn+1)2
として求め、該ESRn+1に基づいて電解コンデンサの劣化を予測することを特徴とする電解コンデンサの劣化予測方法。
IPC (3件):
G01R 27/02
, G01R 31/00
, H01G 13/00
FI (3件):
G01R27/02
, G01R31/00
, H01G13/00 361Z
Fターム (25件):
2G028BB06
, 2G028CG02
, 2G028DH21
, 2G028FK08
, 2G028MS03
, 2G036AA03
, 2G036AA24
, 2G036BA37
, 2G036BB02
, 2G036CA12
, 5E082AB09
, 5E082BB10
, 5E082BC40
, 5E082EE03
, 5E082EE15
, 5E082EE24
, 5E082EE45
, 5E082FF05
, 5E082FG19
, 5E082FG27
, 5E082FG44
, 5E082FG56
, 5E082KK02
, 5E082LL21
, 5E082MM35
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