同軸型空間光干渉断層画像計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：清水守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-249545
公開番号（公開出願番号）：特開2006-064610
出願日： 2004年08月30日
公開日（公表日）： 2006年03月09日
要約：

【課題】低コヒーレント光源を用いた空間干渉による深さ方向情報の並列検出を、簡便な構成かつ高速でかつ有効に実行できる、空間相関波を利用した同軸型空間光干渉断層画像計測装置を提供する。【解決手段】同軸型空間光干渉断層画像計測装置において、干渉計の参照光波の光路に回折格子9を配置し、位相波面と角度を成す相関波面を持った回折光波を信号光波と同軸上で合波する同軸型空間光干渉計を構築し、空間干渉信号を光アレイセンサ12で並列検出し、被検体6の断層像を取得する。参照光波と信号光波の相関波面が干渉し、光アレイセンサ12の検出面上横方向に被検体の深さ方向の形態情報が投影される。位相波面は平行であるため、空間干渉縞の空間周期は無限大となり干渉信号の包絡線を直接検出できる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

広帯域な波長幅をもつ光源を用いる光干渉法による断層画像計測用干渉光学系において、参照光波を回折格子を経由させ、前記回折格子の入射位置に依存して遅延する、回折光の等位相面と角度を成す信号光波との干渉に寄与する相関波面をもつ回折光波を発生させ、該回折光波を信号光波と略同軸で干渉させ、前記遅延に依存する位置に局在した空間干渉信号を発生させるとともに、同軸干渉系を構成することを特徴とする同軸型空間光干渉断層画像計測装置。

IPC (4件)：

G01N 21/17 , A61B 10/00 , G01B 9/02 , G01N 21/45

FI (4件)：

G01N21/17 620 , A61B10/00 E , G01B9/02 , G01N21/45 A

Fターム (33件)：

2F064EE02 , 2F064FF03 , 2F064FF07 , 2F064GG12 , 2F064GG22 , 2F064GG49 , 2F064GG52 , 2F064HH03 , 2F064HH08 , 2F064JJ03 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059EE05 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059FF09 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG10 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059KK04 , 2G059LL01 , 2G059MM01 , 2G059MM08 , 2G059MM14

引用特許：

出願人引用 (1件)

特公平6-35946号公報

前のページに戻る