特許
J-GLOBAL ID:200903069233922388
屈折率測定方法および屈折率測定装置、光学部材の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-302038
公開番号(公開出願番号):特開2008-116409
出願日: 2006年11月07日
公開日(公表日): 2008年05月22日
要約:
【課題】 光学部材などの透明材料の局所的な屈折率を計測することができる測定方法およびその測定装置、さらには、この測定方法を検査工程に導入した光学部材の製造方法を得ること。【解決手段】 透明材料内の屈折率が既知の基準点および屈折率が未知の被測定点に対して、超短光パルスビームを集光照射して四光波混合過程によるFWM光を生じさせ、前記基準点での前記FWM光の強度と、前記被測定点での前記FWM光の強度とを用いて、前記被測定点の屈折率を求める。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
透明材料内の屈折率が既知の基準点および屈折率が未知の被測定点に対して、超短光パルスビームを集光照射して四光波混合過程によるFWM光を生じさせ、前記基準点での前記FWM光の強度と、前記被測定点での前記FWM光の強度とを用いて、前記被測定点の屈折率を求めることを特徴とする屈折率測定方法。
IPC (4件):
G01N 21/65
, G01M 11/02
, G01N 21/41
, G02B 3/00
FI (4件):
G01N21/65
, G01M11/02 H
, G01N21/41 Z
, G02B3/00 Z
Fターム (29件):
2G043AA06
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043EA04
, 2G043FA01
, 2G043GA06
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043KA02
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2G059AA02
, 2G059BB15
, 2G059EE11
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059GG09
, 2G059HH02
, 2G059JJ02
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059MM05
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)