特許

J-GLOBAL ID：200903069275350490

画像形成装置

発明者： 小田巻 誠
出願人/特許権者： 株式会社リコー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-136583
公開番号（公開出願番号）：特開2002-335401
出願日： 2001年05月07日
公開日（公表日）： 2002年11月22日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 1度の自動階調補正により、複数の階調処理モードに関する補正作業を回路規模を増大させることのなく実施。【解決手段】 パラメータ補正用の複数のテストパターンを生成するテストパターン生成部106と、テストパターン106に階調処理を行ってパラメータ毎に転写材上の異なる領域に形成する階調処理部108と、階調処理部108によって形成されたテストパターンを転写材上に画像形成する画像形成部109と、画像形成部109で形成された転写材上の画像を読み取りデジタル画像データに変換する画像読み取り部104と、画像読み取り部104で読み取った値に基づいて階調処理パラメータを補正するパラメータ補正部114とを有し、階調処理部108は、複数組の画像形成される転写材上のテストパターン領域に対応した設定値中からその領域に対応する設定値を選択し、その選択された設定値を用いて階調処理する。

請求項（抜粋）：

パラメータ補正用の複数のテストパターンを生成するテストパターン生成部と、前記テストパターンに階調処理を行ってパラメータ毎に転写材上の異なる領域に形成する階調処理部と、前記階調処理部によって形成されたテストパターンを転写材上に画像形成する画像形成部と、前記画像形成部で形成された転写材上の画像を読み取りデジタル画像データに変換する画像読み取り部と、前記画像読み取り部で読み取った値に基づいて階調処理パラメータを補正するパラメータ補正部とを有し、前記階調処理部は、複数組の画像形成される転写材上のテストパターン領域に対応した設定値中からその領域に対応する設定値を選択し、その選択された設定値を用いて階調処理する画像形成装置。

IPC (3件)：

H04N 1/405 ,  G03G 15/00 303 ,  G06T 5/00 100

FI (3件)：

G03G 15/00 303 ,  G06T 5/00 100 ,  H04N 1/40 B

Fターム (23件)：

2H027EB04 ,  2H027EC03 ,  2H027EC06 ,  2H027FD03 ,  2H027FD08 ,  2H027HA07 ,  5B057CA08 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB16 ,  5B057CE11 ,  5B057CH18 ,  5B057DA17 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5C077LL04 ,  5C077LL12 ,  5C077MM27 ,  5C077MP01 ,  5C077NN02 ,  5C077NN11 ,  5C077PP05 ,  5C077TT01